貝萊克移動光譜儀光源激發(fā)條件的選擇應根據(jù)分析對象確定。不同樣品在不同光源下的預燃時間不同，這主要取決于樣品在火花放電過程中的蒸發(fā)過程，而不僅僅與光源的能量有關。如果你發(fā)現(xiàn)同一個樣本中每個測試的結(jié)果都很不一樣，說明結(jié)果有問題。同一樣品的結(jié)果不應有顯著差異。
1.貝萊奇直接讀取光譜儀， ical校準失敗維護的作弊手段，使樣品中燃燒點的組織結(jié)構(gòu)更加均勻，從而消除了元素間干擾和元素間組合的影響。
2.火花放電對大多數(shù)元素具有良好的再現(xiàn)性，
3.電弧放電的重現(xiàn)性比火花放電差2-3倍，但微量元素的檢出限低得多。
如果貝萊克移動光譜儀的真空值下降很快，看真空值曲線是否平緩。否則，如果有漏氣，檢查真空室真空蓋的密封性能，更換密封圈或?qū)蔷o固螺釘，并分析光強值下降的原因。鏡頭臟入射狹縫老化處理方法污染光纖：擦拭鏡頭，清潔狹縫，更換光纖。應注意標準設定誤差等。冶煉和控制標準樣品時，應適當規(guī)定各元素的含量，使各樣品的基體成分大致相等。
a)控制火花的直讀光譜儀樣品很難滿足多元素分析的要求，所以盡量使控制樣品的含量和組成接近分析樣品的含量和組成。
b)對于特殊情況
經(jīng)常使用與分析樣品的冶金過程和物理狀態(tài)一致的對照樣品來控制樣品的分析結(jié)果，通道負高壓分8步調(diào)節(jié)，大大提高了通道的利用率和分析不同材料時采用分析譜線的線性范圍，減少了采用的通道數(shù)，降低了成本，可用于分析：Fe、Co、Cu、Ni、al、Pb、Mg、Zn、Sn等基體。
如何排除光譜儀分析結(jié)果不準確的故障
通過盡可能平穩(wěn)地研磨或加工來準備重新校準的樣品。導航到光譜儀軟件(IEFE100或Al000)中的重新校準問題。遵循軟件提示的特定順序。不要偏離軟件序列要求的樣本。使用相同的燃點，對重新校準過程中的五個樣本連續(xù)進行了五次分析。分析的任何重新校準標準的相對標準偏差不得超過5。
如果超過5RSD，刪除分析結(jié)果，并從步驟1重試該過程。在樣品的激發(fā)過程中，不需要用水冷卻激發(fā)的臺，樣品可以連續(xù)分析以獲得更好的數(shù)據(jù)。直讀式光譜儀測控系統(tǒng)采用單板機進行測控，并與上位機進行數(shù)據(jù)交換，提高運行速度。各通道光電倍增管的負高壓由計算機軟件調(diào)節(jié)。
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